Testing circuit, semiconductor integrated circuit device with testing circuit built in, and testing method

テスト回路、そのテスト回路を内蔵した半導体集積回路装置、及びそのテスト方法

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test circuit, for example a BIST(Built-In Self Test) circuit, capable of testing any circuit to be tested (for example, a high speed semiconductor memory) easily with the actually working frequency. <P>SOLUTION: The testing circuit is arranged so that the data for selecting the test mode is fed from a tester 35 to a BISI control circuit 50 provided in a BIST circuit 40, and from the control circuit 50, the result of selecting the test mode is emitted synchronously with the test clock tck. On the basis of the result of selecting the test mode, the test pattern is emitted from a pattern producing circuit 60 synchronously with the external clock exck, and the test for the semiconductor memory 20 is conducted. The test result dout is compared with the test pattern din of the expected value by a data comparator 70, and the comparing result compout is held by an output control circuit 80 and fed out synchronously with the test clock tck. <P>COPYRIGHT: (C)2004,JPO
【課題】テスト回路(例えば、BIST(Built−In Self Test)回路)において、被テスト回路(例えば、高速の半導体メモリ)を実動作周波数で容易にテストする。 【解決手段】テスタ35から、テストモード選択用のデータをBIST回路40内のBISI制御回路50に入力すれば、この制御回路50から、テストクロックtckに同期してテストモード選択結果が出力される。このテストモード選択結果に基づき、パターン生成回路60から、外部クロックexckに同期してテストパターンが出力され、半導体メモリ20のテストが行われる。テスト結果doutは、データ比較器70によって期待値のテストパターンdinと比較され、この比較結果compoutが出力制御回路80に保持され、テストクロックtc kに同期して外部へ出力される。 【選択図】  図1

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